Resaltar:
Equipo de ensayo de PCBA 3D-AOI
, 0Equipo de ensayo de PCBA de.6-6 mm
, Equipo de ensayo de PCBA de alta precisión
tamaño: |
Las medidas siguientes se aplicarán: |
El grosor: |
0.6-6 mm (H) |
En la parte superior: |
Cámara industrial a color de 1200W |
Bajo: |
40 mm |
El lado del proceso: |
>= 3 mm |
Defectos de los componentes: |
piezas faltantes, desplazamiento, inclinación, estela, soporte lateral, piezas de vuelta, piezas equ |
Defectos de la pasta de soldadura: |
más estaño, menos estaño, estaño, bola de estaño, soldadura virtual, soldadura faltante Posicionamie |
Por todas partes.: |
Cámara de ángulo.AOI fuente de luz esférica integradora de cuatro colores, luz de estructura de band |
Resolución: |
10um |
Tamaño de referencia principal (mm): |
1280*1680*1580 (W*H*D) |
Peso de referencia: |
sobre 900KG |
Suministro de gas: |
0.4-0.7Mpa (electricidad pura opcional) |
Fuente de alimentación: |
Acción de corriente alterna 220 V |
Capacidad de repuesto: |
sustitución rápida del equipo, tiempo de sustitución <= 1h/persona/unidad |
* Fuerte generalización, alta tasa de detección, baja tasa de falsas alarmas
* Conectividad en la nube de extremo a extremo, soporte para la gestión remota
* Soporte al sistema MES, soporte a la operación fuera de línea, soporte a la depuración en línea sin parar.
* 0 informes faltantes, estableció más de 40 estrategias de modelos de IA de vanguardia, detección eficiente y precisa, tasa de detección falsa < 1%, tecnología de IA confiable, reduce eficazmente el error de juicio del algoritmo
* Tiempo de programación < 1 minuto, sin biblioteca de componentes, para lograr una verdadera programación de un solo clic
* 1 milisegundo de algoritmo de inferencia, la velocidad de inferencia se mejora en gran medida, el algoritmo del modelo es extremadamente optimizado
* No depende de la biblioteca del dispositivo, complete la detección inteligente del dispositivo; y reconozca dispositivos no incluidos en CAD ((Información de ubicación del dispositivo)):
* Aprendizaje eficiente de las características globales de los dispositivos y de los defectos, generación inteligente de diferentes dispositivos, diferentes áreas de detección,diferentes tipos de defecto de los indicadores de decisión;
* Normalización de múltiples umbrales complejos para la detección de defectos en ajustes de umbrales de tolerancia sin necesidad de describir y definir los detalles del dispositivo;Y a través del estudio de los datos estadísticos, se presentan las propuestas de ajuste del umbral cuantitativo.
* No hay necesidad de exigencias técnicas excesivas para el personal de programación, y los reemplazos pueden trabajar en cualquier momento.
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